DNA 염기서열 오류 검증, 간단한 피 검사로도 암 조기진단
암세포 DNA 변이의 정확한 분석을 돕는 검증기술이 국내 연구진에 의해 개발됐다. 서울대 공대는 전기정보공학부 권성훈 교수팀이 암 조기 진단을 위한 매우 낮은 비율의 암세포 DNA 변이를 정확하게 분석할 수 있는 차세대 염기서열 분석(Next Generation Sequencing, NGS) 오류 검증기술을 개발했다고 6일 밝혔다. 2003년 4조원이라는 천문학적 비용이 필요했던 인간 유전체 분석이 2006년 차세대 염기서열 분석 기술(NGS)로 100만…